Scientific Results

Interazione sonda-campione nella microscopia a scansione di conduttanza ionica

Year: 2010

Authors: Tognoni E., Pellegrino M., Orsini P., Pellegrini M., Baschieri P., Dinelli F., Petracchi D., Ascoli C.

Autors Affiliation: INO

Journal/Review:

KeyWords: SICM; AFM;

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