Scientific Results

Misura della microrugosità superficiale con tecniche di profilometria laser e AFM

Year: 2005

Authors: Fontana R., Gambino M.C., Girelli A., Greco M., Pampaloni E., Quercioli F., Tiribilli B., Vassalli M.

Autors Affiliation: Istituto Nazionale di Ottica Applicata, Largo E. Fermi 6, 50125 Firenze, Italy

Journal/Review:

KeyWords: microrugosità superficiale; conoscopia; AFM