Scientific Results

Misura della microrugosità de superfici lavorate otticamente

Year: 2002

Authors: Quercioli F., Tiribilli B., Vassalli M., Barilli M.

Autors Affiliation: Istituto Nazionale di Ottica Applicata, Largo E. Fermi 6, 50125 Firenze, Italy;
Galieo Avionica, Campi Bisenzio, Italy

Conference title: Elettroottica 2002 : 7° Convegno Nazionale “Strumentazione e Metodi di Misura Elettroottici”
Place: Montecatini Terme

KeyWords: Atomic force microscopy

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