AFM imaging of resin embedded thin section after moderate chemical etching
Year: 2003
Authors: Tiribilli B., Bani D., Vassalli M., Quercioli F., Ghirelli A.
Autors Affiliation: Tipologia: Comunicazioni/relazioni in Convegni internazionali
Istituto Nazionale di Ottica Applicata – Lab. di Biofotonica, Largo E. Fermi 6, 50125 Firenze, Italy;
Dip. di Anatomia, Istologia, Medicina legale, Università di Firenze, Italy
Conference title: Proceedings 6th Multinational Congress on Microscopy – European Extension
Place: Pula, Croatia
KeyWords: Atomic force microscopy