Scientific Results

Misura dello spessore e dell’indice di rifrazione di lamine trasparenti sottili mediante interferometro a spostamento laterale a scansione di lunghezza d’onda

Year: 2004

Authors: Maddaloni P., Ferraro P., De Natale P., Coppola G., Gioffre M., Iodice M., De Nicola S.

Autors Affiliation: Istituto Nazionale di Ottica Applicata, Via Campi Flegrei 34, 80078 Pozzuoli (NA), Italy;
Istituto per la Microelettronica e i Microsistemi – CNR, Via Pietro Castellino 111, 80131, Napoli, Italy;
Istituto di Cibernetica “E. Caianiello” del CNR, Via Campi Flegrei 34, 80078 Pozzuoli (NA), Italy;

Conference title: Elettroottica 2004: 8. Convegno Nazionale “Strumentazione e Metodi di Misura Elettroottici”
Place: Pavia

KeyWords: Interferometria

gdpr-image
This site uses cookies. If you decide to continue browsing we consider that you accept their use. For more information about cookies and how to delete them please read our Info Policy on cookies use.
Read more