Rapporto 3F-RT12011 Misura riflettanza deposizioni di silicio
Year: 2012
Authors: Fontani D., Francini F., Jafrancesco D., Marconi L., Meucci M., Mercatelli L., Sani E., Sansoni P.
Autors Affiliation: CNR – Istituto Nazionale di Ottica, Largo E. Fermi 6, 50125 Firenze, Italy
Journal/Review: JOURNAL OF THE OPTICAL SOCIETY OF AMERICA B-OPTICAL PHYSICS
KeyWords: fotometria; illuminotecnica; metrologia