Procedura INOA-AE002/P rev. 3: Rapporti di prova
Year: 2009
Authors: Vannoni M., Molesini G.
Autors Affiliation: CNR-Istituto Nazionale di Ottica Applicata
Journal/Review: JOURNAL OF THE OPTICAL SOCIETY OF AMERICA B-OPTICAL PHYSICS
KeyWords: Metrologia ottica; Centro SIT;