Rapporto 3F-RT07006 Prot. INOA 109 del 5/02/2007 Misure di irradiamento spettrale generato da specular microscope per uso oftalmico (secondo UNI EN ISO 10940)
Year: 2007
Authors: Fontani D., Francini F., Jafrancesco D., Mercatelli L., Sansoni P.
Autors Affiliation: INOA
Journal/Review: JOURNAL OF THE OPTICAL SOCIETY OF AMERICA B-OPTICAL PHYSICS
KeyWords: fotometria; illuminotecnica; metrologia