Sistema innovativo per misure spettofotometriche assolute di riflettanza su componenti ottici
Year: 1989
Authors: Castellini C.
Autors Affiliation: Istituto Nazionale di Ottica, Largo E. Fermi 6, 50125 Firenze, Italy
Journal/Review: JOURNAL OF THE OPTICAL SOCIETY OF AMERICA B-OPTICAL PHYSICS
KeyWords: riflettometro