L’optoelettronica nel controllo di qualità dei processi industriali
Year: 1990
Authors: Francini F.
Autors Affiliation: Istituto Nazionale di Ottica, Largo E. Fermi 6, 50125 Firenze, Italy
Conference title: 1. Convegno nazionale Strumentazione e metodi di misura elettrottici
Place: Milano
KeyWords: industria tessile; controllo qualuità; dispositivi optoelettronici