Scientific Results

Misura di indice di rifrazione a temperatura criogenica

Year: 2008

Authors: Vannoni M., Molesini G., Mochi I., Olivieri M., Mondello G.

Autors Affiliation: CNR-Istituto Nazionale di Ottica Applicata, Firenze;
Istituto Nazionale di Astrofisica, Firenze;
Galileo Avionica, Campi Bisenzio (Firenze)

Conference title: 10° Convegno Nazionale “Strumentazione e Metodi di Misura Elettroottici” (Elettroottica 2008)
Place: Milano

KeyWords: Metrologia ottica; indice di rifrazione;