Indagini diagnostiche ottiche: Riflettografia infrarossa e Microrilievo della superficie

Year: 2004

Authors: Fontana R., Gambino M.C., Greco M., Materazzi M., Pampaloni E., Pezzati L.

Autors Affiliation: INOA – Istituto Nazionale di Ottica Applicata, Largo E. Fermi 6, 50125 Firenze, Italy

Journal/Review: JOURNAL OF THE OPTICAL SOCIETY OF AMERICA B-OPTICAL PHYSICS

KeyWords: Riflettografia infrarossa; microprofilometria;