Caratterizzazione di sorgenti e materiali in ambito industriale con metodi fotometrici
Year: 2002
Authors: Moncini S., Vannoni M.
Autors Affiliation: Istituto Nazionale di Ottica Applicata, Largo E. Fermi 6, 50125 Firenze, Italy
Journal/Review: JOURNAL OF THE OPTICAL SOCIETY OF AMERICA B-OPTICAL PHYSICS
KeyWords: Fotometria