Misura delle caratteristiche di un reticolo micrometrico (ID 172 scala per durometri). Laboratorio Misure e Collaudi Ottici, Relazione Tecnica 05/04, Prot. n. 1870, 17/09/2004
Year: 2004
Authors: Vannoni M., Molesini G.
Autors Affiliation: Istituto Nazionale di Ottica Applicata
Journal/Review: JOURNAL OF THE OPTICAL SOCIETY OF AMERICA B-OPTICAL PHYSICS
KeyWords: misure ottiche