Femtosecond autocorrelation measurements in the mir based on two-photon absorption in semiconductor devices
Year: 2003
Authors: Foggi P., Goller D.D., Bellini M., Di Trapani P.
Autors Affiliation: LENS e INFM UdF, via Nello Carrara 1, 50019 Sesto Fiorentino (FI), Italy;
Dip. di Choimica, Universitą di Perugia, Italy;
Istituto Nazionale di Ottica Applicata, Largo E. Fermi 6, 50125 Firenze, Italy;
INFM e Dip. di Scienze Chimiche Fisiche e Matematiche, Universitą dell’Insubria, Como Italy
Journal/Review: JOURNAL OF THE OPTICAL SOCIETY OF AMERICA B-OPTICAL PHYSICS
KeyWords: Interferometry