Misure interferometriche di parallelismo
Year: 2005
Authors: Vannoni M., Molesini G.
Autors Affiliation: Istituto Nazionale di Ottica Applicata, Largo E. Fermi 6, 50125 Firenze, Italy
Conference title: IV Congresso “Metrologia e Qualità”
Place: Torino
KeyWords: Metrologia ottica; collaudi ottici; parallelismo