Interferometria su superfici rugose con un interferometro programmabile

Year: 1996

Authors: Greco V., Hoffer L., Molesini G., Trivi M.

Autors Affiliation: Istituto Nazionale di Ottica, Largo E. Fermi 6, 50125 Firenze, Italy;
Centro de Investigaciones Opticas,La Plata, Argentina

Conference title: 4° Convegno Nazionale “Strumentazione e Metodi di Misura Elettroottici” (Elettroottica ’94)
Place: Milano

KeyWords: metrologia ottica; speckles; interferometria a scorrimento di fase