Ologrammetria a tutto tondo con un sistema ottico a specchi
Year: 2002
Authors: Vannoni M., Rovai L., Molesini G.
Autors Affiliation: Istituto Nazionale di Ottica Applicata, Largo E. Fermi 6, 50125 Firenze, Italy
Conference title: Elettroottica 2002 : 7° Convegno Nazionale “Strumentazione e Metodi di Misura Elettroottici”
Place: Montecatini
KeyWords: Interferometria olografica