Digital Speckle Pattern Interferometry for Applications in Cultural Heritage
Anno: 2012
Autori: Pagliarulo V., Arena G., Paturzo M., Finizio A., Ferraro P.
Affiliazione autori: CNR Istituto Nazionale di Ottica
Titolo Convegno: XX A.I.VE.LA. National Meeting
Luogo: CNR – INSEAN Roma
Parole chiavi: interferometry; Cultural Heritage; diagnostics