Metodi spettrofotometrici per misure assolute di trasmittanza e riflettanza di componenti
Anno: 1988
Autori: Castellini C.
Affiliazione autori: Istituto Nazionale di Ottica, Largo E. Fermi 6, 50125 Firenze, Italy
Abstract: Non disponibile
Giornale/Rivista:
Volume: 4 Da Pagina: 177 A: 184
Parole chiavi: trasmittanza; riflettanza; spettrofotometri; misurazione;