Risultati scientifici

L’optoelettronica nel controllo di qualità dei processi industriali

Anno: 1990

Autori: Francini F.

Affiliazione autori: Istituto Nazionale di Ottica, Largo E. Fermi 6, 50125 Firenze, Italy

Titolo Convegno: 1. Convegno nazionale Strumentazione e metodi di misura elettrottici
Luogo: Milano

Parole chiavi: industria tessile; controllo qualuità; dispositivi optoelettronici

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