L’optoelettronica nel controllo di qualità dei processi industriali
Anno: 1990
Autori: Francini F.
Affiliazione autori: Istituto Nazionale di Ottica, Largo E. Fermi 6, 50125 Firenze, Italy
Titolo Convegno: 1. Convegno nazionale Strumentazione e metodi di misura elettrottici
Luogo: Milano
Parole chiavi: industria tessile; controllo qualuità; dispositivi optoelettronici