Caratterizzazione di sorgenti e materiali in ambito industriale con metodi fotometrici
Anno: 2002
Autori: Moncini S., Vannoni M.
Affiliazione autori: Istituto Nazionale di Ottica Applicata, Largo E. Fermi 6, 50125 Firenze, Italy
Giornale/Rivista:
Parole chiavi: Fotometria