Interferometria olografica a tutto tondo con un sistema ottico a specchi
Anno: 2002
Autori: Vannoni M., Rovai L., Trivi M., Molesini G.
Affiliazione autori: Istituto Nazionale di Ottica Applicata, Largo E. Fermi 6, 50125 Firenze, Italy
Giornale/Rivista:
Parole chiavi: interferometria olografica