Second order interferometric autocorrelator for nonlinear optical microscopy
Anno: 2004
Autori: Quercioli F., Ghirelli A., Tiribilli B., Vassalli M.
Affiliazione autori: Istituto Nazionale di Ottica Applicata, Largo E. Fermi 6, 50125 Firenze, Italy
Giornale/Rivista:
Parole chiavi: Nonlinear optical microscopy