Risultati scientifici

Thickness measurement of thin trasparent plates with a broad-band wavelenght scanning interferometer

Anno: 2004

Autori: Maddaloni P., Coppola G., De Nicola S., Ferraro P., Gioffrè M., Iodice M., De Natale P.

Affiliazione autori: Istituto Nazionale di Ottica Applicata, Sez. di Napoli, Via Campi Flegrei 34, 80078 Pozzuoli (NA), Italy;
Istituto di Cibernetica “E. Caianiello” del CNR, Napoli, Italy;
Istituto per la Microelettronica e i Microsistemi del CNR, Napoli, Italy

Giornale/Rivista:

Parole chiavi: Interferometry

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