Medium-term stability effects on a fused silica planarity standard
Anno: 2006
Autori: Vannoni M., Molesini G.
Affiliazione autori: CNR – Istituto Nazionale di Ottica Applicata, Largo E. Fermi 6, 50125 Firenze, Italy
Titolo Convegno: Conference on Precision Electromagnetic Measurements (CPEM)
Luogo: Torino
Parole chiavi: planarity; Interferometry;