Monitoring the optical thickness of transparency films by homodyne interferometry
Anno: 1996
Autori: Greco V., Trivi M., Molesini G.
Affiliazione autori: Istituto Nazionale di Ottica, Largo e. Fermi 6, 50125 Firenze, Italy
Titolo Convegno: Applied Optics and Opto-Electronics 1996
Luogo: Reading
Parole chiavi: Homodyne interferometry; optical metrology;