Interazione sonda-campione nella microscopia a scansione di conduttanza ionica

Anno: 2010

Autori: Tognoni E., Pellegrino M., Orsini P., Pellegrini M., Baschieri P., Dinelli F., Petracchi D., Ascoli C.

Affiliazione autori: INO

Giornale/Rivista: JOURNAL OF THE OPTICAL SOCIETY OF AMERICA B-OPTICAL PHYSICS

Parole chiavi: SICM; AFM;