L’optoelettronica nel controllo di qualità dei processi industriali

Year: 1990

Authors: Francini F.

Autors Affiliation: Istituto Nazionale di Ottica, Largo E. Fermi 6, 50125 Firenze, Italy

Conference title: 1. Convegno nazionale Strumentazione e metodi di misura elettrottici
Place: Milano

KeyWords: industria tessile; controllo qualuità; dispositivi optoelettronici