Scientific Results

Ologrammetria a tutto tondo con un sistema ottico a specchi

Year: 2002

Authors: Vannoni M., Rovai L., Molesini G.

Autors Affiliation: Istituto Nazionale di Ottica Applicata, Largo E. Fermi 6, 50125 Firenze, Italy

Conference title: Elettroottica 2002 : 7° Convegno Nazionale “Strumentazione e Metodi di Misura Elettroottici”
Place: Montecatini

KeyWords: Interferometria olografica

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