Multiphoton excitation fluorescence microscopy for
Multiphoton excitation fluorescence microscopy for non-destructive analysis of painting substrates
Anno: 2017
Autori: Dal Fovo A., Martínez-Hernández A., Sanz M., Oujja M., Fontana R., Castillejo M.
Affiliazione autori: CNR-INO Istituto Nazionale di Ottica, Largo E. Fermi 6, 50125 Florence, Italy
Instituto de Química Física Rocasolano, (IQFR) CSIC, Serrano 119, 28006 Madrid, Spain
Giornale/Rivista:
Parole chiavi: non-linear techniques; MPEF; THG