Sistema elettro-ottico per il rilevamento in linea di difetti di tessitura
Anno: 1984
Autori: Castellini C., Longobardi G.
Affiliazione autori: Istituto Nazionale di Ottica, largo e. Fermi 6, 50125 Firenze, Italy
Titolo Convegno: IV Congresso Nazionale di Elettronica Quantistica e Plasmi
Luogo: Capri
Parole chiavi: tessitura; dispositivo optoelettronico di controllo;