Indagini riflettografiche di sette miniature su avorio con scanner IR-colore ad alta risoluzione

Anno: 2005

Autori: Daffara C.

Affiliazione autori: INOA – Istituto Nazionale di Ottica Applicata, Largo E. Fermi 6, 50125 Firenze

Giornale/Rivista:

Parole chiavi: diagnostica non invasiva