Misura di indice di rifrazione a temperatura criogenica

Anno: 2008

Autori: Vannoni M., Molesini G., Mochi I., Olivieri M., Mondello G.

Affiliazione autori: CNR-Istituto Nazionale di Ottica Applicata, Firenze;
Istituto Nazionale di Astrofisica, Firenze;
Galileo Avionica, Campi Bisenzio (Firenze)

Titolo Convegno: 10° Convegno Nazionale “Strumentazione e Metodi di Misura Elettroottici” (Elettroottica 2008)
Luogo: Milano

Parole chiavi: Metrologia ottica; indice di rifrazione;