Misura della microrugosità superficiale con tecniche di profilometria laser e AFM
Anno: 2005
Autori: Fontana R., Gambino M.C., Girelli A., Greco M., Pampaloni E., Quercioli F., Tiribilli B., Vassalli M.
Affiliazione autori: Istituto Nazionale di Ottica Applicata, Largo E. Fermi 6, 50125 Firenze, Italy
Giornale/Rivista:
Parole chiavi: microrugosità superficiale; conoscopia; AFM