Effetti di campi di microtemperatura nella misura della planarità per via interferometrica

Anno: 1998

Autori: Greco V., Marchesini F., Molesini G.

Affiliazione autori: Istituto Nazionale di Ottica, Largo E. Fermi 6, 50125 Firenze, Italy

Giornale/Rivista:

Parole chiavi: interferometria