Optical Micro-profilometry for Roughness Measurement
Anno: 2007
Autori: Fontana R., Daffara C., Gambino M.C., Pampaloni E., Pezzati L.
Affiliazione autori: INOA-CNR Istituto Nazionale di Ottica Applicata, Largo E. Fermi 6, 50125 Firenze, Italy
Giornale/Rivista:
Parole chiavi: Optical Microprofilometry; Roughness Measurement;