Misure di parallelismo con metodi meccanici e interferometrici

Anno: 2007

Autori: Vannoni M., Bertozzi R.

Affiliazione autori: CNR – Istituto Nazionale di Ottica Applicata, Centro SIT n. 130, Largo E. Fermi 6, 50125 Firenze, Italy;
CERMRT Centro SIT n. 52,

Titolo Convegno: Metrologia & Qualità
Luogo: Torino

Parole chiavi: metrology