Misura dello spessore e dell’indice di rifrazione di lamine trasparenti sottili mediante interferometro a spostamento laterale a scansione di lunghezza d’onda
Anno: 2004
Autori: Maddaloni P., Ferraro P., De Natale P., Coppola G., Gioffre M., Iodice M., De Nicola S.
Affiliazione autori: Istituto Nazionale di Ottica Applicata, Via Campi Flegrei 34, 80078 Pozzuoli (NA), Italy;
Istituto per la Microelettronica e i Microsistemi – CNR, Via Pietro Castellino 111, 80131, Napoli, Italy;
Istituto di Cibernetica “E. Caianiello” del CNR, Via Campi Flegrei 34, 80078 Pozzuoli (NA), Italy;
Titolo Convegno: Elettroottica 2004: 8. Convegno Nazionale “Strumentazione e Metodi di Misura Elettroottici”
Luogo: Pavia
Parole chiavi: Interferometria