Interferometria su superfici rugose con un interferometro programmabile
Anno: 1996
Autori: Greco V., Hoffer L., Molesini G., Trivi M.
Affiliazione autori: Istituto Nazionale di Ottica, Largo E. Fermi 6, 50125 Firenze, Italy;
Centro de Investigaciones Opticas,La Plata, Argentina
Titolo Convegno: 4° Convegno Nazionale “Strumentazione e Metodi di Misura Elettroottici” (Elettroottica ’94)
Luogo: Milano
Parole chiavi: metrologia ottica; speckles; interferometria a scorrimento di fase