Interferometric calibration of optical parallels
Anno: 1999
Autori: Greco V., Marchesini F., Molesini G.
Affiliazione autori: Istituto Nazionale di Ottica, Largo E. Fermi 6, 50125 Firenze, Italy
Titolo Convegno: 1st International Conference of the European Society for Precision Engineering and Nanotechnology (EUSPEN)
Luogo: Bremen
Parole chiavi: Form metrology; optical testing; parallelism