Microscopie ottiche a scansione

Anno: 2004

Autori: Quercioli F., Girelli A., Tiribilli B., Vassalli M., Molesini G., Vannoni M.

Affiliazione autori: Istituto Nazionale di Ottica Applicata, Largo E. Fermi 6, 50125 Firenze, Italy

Titolo Convegno: 8° Convegno Nazionale “Strumentazione e Metodi di Misura Elettroottici” (Elettroottica 2004)
Luogo: Pavia

Parole chiavi: Microscopia