Microscopie ottiche a scansione
Anno: 2004
Autori: Quercioli F., Girelli A., Tiribilli B., Vassalli M., Molesini G., Vannoni M.
Affiliazione autori: Istituto Nazionale di Ottica Applicata, Largo E. Fermi 6, 50125 Firenze, Italy
Titolo Convegno: 8° Convegno Nazionale “Strumentazione e Metodi di Misura Elettroottici” (Elettroottica 2004)
Luogo: Pavia
Parole chiavi: Microscopia