Risultati scientifici

Ologrammetria a tutto tondo con un sistema ottico a specchi

Anno: 2002

Autori: Vannoni M., Rovai L., Molesini G.

Affiliazione autori: Istituto Nazionale di Ottica Applicata, Largo E. Fermi 6, 50125 Firenze, Italy

Titolo Convegno: Elettroottica 2002 : 7° Convegno Nazionale “Strumentazione e Metodi di Misura Elettroottici”
Luogo: Montecatini

Parole chiavi: Interferometria olografica

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