Attività primaria: Microscopia elettronica in scansione / trasmissione per la caratterizzazione di nanostrutture. Tomografia elettronica. Fabbricazione di dispositivi tramite EBL.

Principali competenze acquisite: Preparazione e osservazione di campioni al microscopio elettronico. Tecniche di imaging convenzionale e avanzate (olografia, tomografia, STEM-HAADF, HREM). Electron Beam Lithography. Nanomanipolazione.

Pubblicazioni, risultati di ricerca attualmente presenti nel database INO: 29
  –   Articoli su Rivista JCR/ISI: 24
  –   Libri o Capitoli: 1
  –   Articoli su Riviste non JCR/ISI: 0
  –   Atti di conferenze: 22
  –   Abstract: 5

Gli indici bibliometrici sono calcolati UTILIZZANDO SOLO IL DATABASE INO e il numero di citazioni da “WEB OF SCIENCE” (di Thomson Reuters) è aggiornato al 2024-04-14
  –   numero massimo di citazioni per un articolo: 128
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  –   H-INDEX: 18   G-INDEX: 21   HC-INDEX (contemporary): 10 
  –   I dieci articoli più citati  –   I dieci articoli con Impact Factor più alto